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比表面積測(cè)試儀操作規(guī)程
1 范圍本規(guī)程規(guī)定了JW-BK400比表面積分析儀設(shè)備的完好標(biāo)準(zhǔn)、操作方法、維護(hù)規(guī)程、**操作規(guī)程。2 操作步驟操作條件：室溫25℃,濕度小于30%。2.1 開始測(cè)試依次接通氮?dú)夂秃猓?..
發(fā)布時(shí)間：2023-10-20 14:12
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比表面積測(cè)試方法
比表面積測(cè)試方法主要分連續(xù)流動(dòng)法（即動(dòng)態(tài)法）和靜態(tài)容量法 [1]。動(dòng)態(tài)法動(dòng)態(tài)法是將待測(cè)粉體樣品裝在U型的樣品管內(nèi)，使含有一定比例吸附質(zhì)的混合氣體流過樣品，根據(jù)吸附后氣體濃度變化來確定被測(cè)樣品...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-20 13:51
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比表面積測(cè)定儀的原理及應(yīng)用
比表面積測(cè)定儀的原理及應(yīng)用一、比表面積測(cè)定儀的原理比表面積是指單位質(zhì)量物質(zhì)的表面面積，通常用m2/g表示。比表...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-19 14:25
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比表面積k值標(biāo)定步驟
比表面積k值標(biāo)定步驟如下：1、在恒溫實(shí)驗(yàn)室中，我們先通電預(yù)熱全自動(dòng)比表面積儀。2、計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)粉的用量，我們根據(jù)質(zhì)量=密度*體積*孔隙率3、計(jì)算出質(zhì)量后，我們利用精密天平稱出標(biāo)準(zhǔn)粉的用量。（容...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-19 14:09
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比表面積及孔徑測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
比表面積及孔徑測(cè)試儀 一、適用范圍及功能1）適用產(chǎn)品多：包括測(cè)量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機(jī)化合物等粉體以及各種塊材、片材、高...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-19 13:55
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如何正確使用電弱點(diǎn)測(cè)試儀？
如何正確使用電弱點(diǎn)測(cè)試儀？每當(dāng)我們打開開關(guān)，享受到家里有電的舒適和方便時(shí)，卻很少想到這電力系統(tǒng)背后的復(fù)雜性和風(fēng)險(xiǎn)。在現(xiàn)代社會(huì)中，電力已經(jīng)成為了貫穿人類生活各個(gè)方面的必要因素。然而，隨著電力...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-18 14:02
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題？
電弱點(diǎn)測(cè)試儀擊穿后的電壓采集能解決什么問題？ 電弱點(diǎn)測(cè)試儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理，對(duì)于電弧放電過程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。 電弱點(diǎn)...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-18 13:33
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測(cè)試儀DRD-10KV電弱點(diǎn)測(cè)試儀-（計(jì)算機(jī)控制）?產(chǎn)品型號(hào)：DRD-10KV?執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB_T13542.2-2009IEC60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜第2部...
發(fā)布時(shí)間：2023-10-18 13:13
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